| Presentacións/exposicións |
Valoraranse tanto os aspectos técnicos (experiencia no manexo das ferramentas informáticas para o tratamento de datos cristalográficos) como a organización científica, busca de documentación asociada ao tema e a orixinalidade á hora de expoñer o tema. |
30 |
| Probas de resposta curta |
Evaluaranse os contenidos conceptuais das clases teóricas mediante la realización de dos ejercicos basados en la respuesta de preguntas cortas sobre temas de Cristalografía y Difracción de Rayos X |
50 |
|
Valorarase moi positivamente a asistencia as leccions maxistrais e os seminarios. Así como a participación e interaccion entre profesor-alumno, os alumnos entre sí, etc, o longo de todo o periodo de aprendizaxe. A avaliación na segunda convocatoria consistirá na realización dun exercicio teórico acerca dos conceptos básicos da Cristalografía e a súa aplicación á resolución de estruturas, desenvolvidos durante as clases maxistrais. Así mesmo, será necesario realizar un exercicio práctico para a análise de estruturas cristalinas empregadas durante o curso. A porcentaxe máxima desta puntuación será dun 50%, a porcentaxe restante será a acadada polo alumno durante o periodo de avaliación continua. Un alumno considerarase coma non presentado cando non se presente as duas probas de avaliación curta ou no caso de non presentarse as probas de avaliación curta o exame final. |
